先進半導體

AI賦能智慧檢測!第26屆全國AOI論壇登場 工研院聚焦先進半導體與矽光子

工研院與自動光學檢測設備聯盟共同舉辦「第26屆全國AOI論壇與展覽」,工研院量測中心執行長暨聯盟會長藍玉屏(左八)與產學研代表合影,聚焦先進半導體、矽光子及AI智慧檢測技術,推動跨域交流與產業應用。(圖/工研院提供)

人工智慧加速導入製造產線,帶動自動光學檢測(AOI)技術升級。工研院與自動光學檢測設備聯盟(AOIEA)於10月1日在新竹陽明交通大學舉辦「第26屆全國AOI論壇與展覽」,邀集產學研專家及10家業者,聚焦先進半導體、矽光子、材料分析與智慧視覺,透過專題演講、技術展示及論文發表,促進智慧檢測技術交流與產業應用。